git.sur5r.net Git - freertos/blob

   1 /******************************************************************************
   2 *
   3 * Copyright (C) 2009 - 2015 Xilinx, Inc. All rights reserved.
   4 *
   5 * Permission is hereby granted, free of charge, to any person obtaining a copy
   6 * of this software and associated documentation files (the "Software"), to deal
   7 * in the Software without restriction, including without limitation the rights
   8 * to use, copy, modify, merge, publish, distribute, sublicense, and/or sell
   9 * copies of the Software, and to permit persons to whom the Software is
  10 * furnished to do so, subject to the following conditions:
  11 *
  12 * The above copyright notice and this permission notice shall be included in
  13 * all copies or substantial portions of the Software.
  14 *
  15 * Use of the Software is limited solely to applications:
  16 * (a) running on a Xilinx device, or
  17 * (b) that interact with a Xilinx device through a bus or interconnect.
  18 *
  19 * THE SOFTWARE IS PROVIDED "AS IS", WITHOUT WARRANTY OF ANY KIND, EXPRESS OR
  20 * IMPLIED, INCLUDING BUT NOT LIMITED TO THE WARRANTIES OF MERCHANTABILITY,
  21 * FITNESS FOR A PARTICULAR PURPOSE AND NONINFRINGEMENT. IN NO EVENT SHALL
  22 * XILINX  BE LIABLE FOR ANY CLAIM, DAMAGES OR OTHER LIABILITY,
  23 * WHETHER IN AN ACTION OF CONTRACT, TORT OR OTHERWISE, ARISING FROM, OUT OF
  24 * OR IN CONNECTION WITH THE SOFTWARE OR THE USE OR OTHER DEALINGS IN THE
  25 * SOFTWARE.
  26 *
  27 * Except as contained in this notice, the name of the Xilinx shall not be used
  28 * in advertising or otherwise to promote the sale, use or other dealings in
  29 * this Software without prior written authorization from Xilinx.
  30 *
  31 ******************************************************************************/
  32 /*****************************************************************************/
  33 /**
  34 *
  35 * @file xil_testmem.c
  36 *
  37 * Contains the memory test utility functions.
  38 *
  39 * <pre>
  40 * MODIFICATION HISTORY:
  41 *
  42 * Ver    Who    Date    Changes
  43 * ----- ---- -------- -----------------------------------------------
  44 * 1.00a hbm  08/25/09 First release
  45 * </pre>
  46 *
  47 *****************************************************************************/
  48
  49 /***************************** Include Files ********************************/
  50 #include "xil_testmem.h"
  51 #include "xil_io.h"
  52 #include "xil_assert.h"
  53
  54 /************************** Constant Definitions ****************************/
  55 /************************** Function Prototypes *****************************/
  56
  57 static u32 RotateLeft(u32 Input, u8 Width);
  58
  59 /* define ROTATE_RIGHT to give access to this functionality */
  60 /* #define ROTATE_RIGHT */
  61 #ifdef ROTATE_RIGHT
  62 static u32 RotateRight(u32 Input, u8 Width);
  63 #endif /* ROTATE_RIGHT */
  64
  65
  66 /*****************************************************************************/
  67 /**
  68 *
  69 * Perform a destructive 32-bit wide memory test.
  70 *
  71 * @param    Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
  72 * @param    Words is the length of the block.
  73 * @param    Pattern is the constant used for the constant pattern test, if 0,
  74 *           0xDEADBEEF is used.
  75 * @param    Subtest is the test selected. See xil_testmem.h for possible
  76 *           values.
  77 *
  78 * @return
  79 *
  80 * - 0 is returned for a pass
  81 * - -1 is returned for a failure
  82 *
  83 * @note
  84 *
  85 * Used for spaces where the address range of the region is smaller than
  86 * the data width. If the memory range is greater than 2 ** Width,
  87 * the patterns used in XIL_TESTMEM_WALKONES and XIL_TESTMEM_WALKZEROS will
  88 * repeat on a boundry of a power of two making it more difficult to detect
  89 * addressing errors. The XIL_TESTMEM_INCREMENT and XIL_TESTMEM_INVERSEADDR
  90 * tests suffer the same problem. Ideally, if large blocks of memory are to be
  91 * tested, break them up into smaller regions of memory to allow the test
  92 * patterns used not to repeat over the region tested.
  93 *
  94 *****************************************************************************/
  95 s32 Xil_TestMem32(u32 *Addr, u32 Words, u32 Pattern, u8 Subtest)
  96 {
  97         u32 I;
  98         u32 j;
  99         u32 Val;
 100         u32 FirtVal;
 101         u32 WordMem32;
 102         s32 Status = 0;
 103
 104         Xil_AssertNonvoid(Words != (u32)0);
 105         Xil_AssertNonvoid(Subtest <= (u8)XIL_TESTMEM_MAXTEST);
 106         Xil_AssertNonvoid(Addr != NULL);
 107
 108         /*
 109          * variable initialization
 110          */
 111         Val = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 112         FirtVal = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 113
 114
 115         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INCREMENT)) {
 116                 /*
 117                  * Fill the memory with incrementing
 118                  * values starting from 'FirtVal'
 119                  */
 120                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 121                         *(Addr+I) = Val;
 122                         Val++;
 123                 }
 124
 125                 /*
 126                  * Restore the reference 'Val' to the
 127                  * initial value
 128                  */
 129                 Val = FirtVal;
 130
 131                 /*
 132                  * Check every word within the words
 133                  * of tested memory and compare it
 134                  * with the incrementing reference
 135                  * Val
 136                  */
 137
 138                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 139                         WordMem32 = *(Addr+I);
 140
 141                         if (WordMem32 != Val) {
 142                                 Status = -1;
 143                                 goto End_Label;
 144                         }
 145
 146                         Val++;
 147                 }
 148         }
 149
 150         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKONES)) {
 151                 /*
 152                  * set up to cycle through all possible initial
 153                  * test Patterns for walking ones test
 154                  */
 155
 156                 for (j = 0U; j < (u32)32; j++) {
 157                         /*
 158                          * Generate an initial value for walking ones test
 159                          * to test for bad data bits
 160                          */
 161
 162                         Val = (1U << j);
 163
 164                         /*
 165                          * START walking ones test
 166                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 167                          */
 168
 169                         for (I = 0U; I < (u32)32; I++) {
 170                                 /* write memory location */
 171                                 *(Addr+I) = Val;
 172                                 Val = (u32) RotateLeft(Val, 32U);
 173                         }
 174
 175                         /*
 176                          * Restore the reference 'val' to the
 177                          * initial value
 178                          */
 179                         Val = 1U << j;
 180
 181                         /* Read the values from each location that was
 182                          * written */
 183                         for (I = 0U; I < (u32)32; I++) {
 184                                 /* read memory location */
 185
 186                                 WordMem32 = *(Addr+I);
 187
 188                                 if (WordMem32 != Val) {
 189                                         Status = -1;
 190                                         goto End_Label;
 191                                 }
 192
 193                                 Val = (u32)RotateLeft(Val, 32U);
 194                         }
 195                 }
 196         }
 197
 198         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKZEROS)) {
 199                 /*
 200                  * set up to cycle through all possible
 201                  * initial test Patterns for walking zeros test
 202                  */
 203
 204                 for (j = 0U; j < (u32)32; j++) {
 205
 206                         /*
 207                          * Generate an initial value for walking ones test
 208                          * to test for bad data bits
 209                          */
 210
 211                         Val = ~(1U << j);
 212
 213                         /*
 214                          * START walking zeros test
 215                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 216                          */
 217
 218                         for (I = 0U; I < (u32)32; I++) {
 219                                 /* write memory location */
 220                                 *(Addr+I) = Val;
 221                                 Val = ~((u32)RotateLeft(~Val, 32U));
 222                         }
 223
 224                         /*
 225                          * Restore the reference 'Val' to the
 226                          * initial value
 227                          */
 228
 229                         Val = ~(1U << j);
 230
 231                         /* Read the values from each location that was
 232                          * written */
 233                         for (I = 0U; I < (u32)32; I++) {
 234                                 /* read memory location */
 235                                 WordMem32 = *(Addr+I);
 236                                 if (WordMem32 != Val) {
 237                                         Status = -1;
 238                                         goto End_Label;
 239                                 }
 240                                 Val = ~((u32)RotateLeft(~Val, 32U));
 241                         }
 242
 243                 }
 244         }
 245
 246         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INVERSEADDR)) {
 247                 /* Fill the memory with inverse of address */
 248                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 249                         /* write memory location */
 250                         Val = (u32) (~((INTPTR) (&Addr[I])));
 251                         *(Addr+I) = Val;
 252                 }
 253
 254                 /*
 255                  * Check every word within the words
 256                  * of tested memory
 257                  */
 258
 259                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 260                         /* Read the location */
 261                         WordMem32 = *(Addr+I);
 262                         Val = (u32) (~((INTPTR) (&Addr[I])));
 263
 264                         if ((WordMem32 ^ Val) != 0x00000000U) {
 265                                 Status = -1;
 266                                 goto End_Label;
 267                         }
 268                 }
 269         }
 270
 271         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_FIXEDPATTERN)) {
 272                 /*
 273                  * Generate an initial value for
 274                  * memory testing
 275                  */
 276
 277                 if (Pattern == (u32)0) {
 278                         Val = 0xDEADBEEFU;
 279                 }
 280                 else {
 281                         Val = Pattern;
 282                 }
 283
 284                 /*
 285                  * Fill the memory with fixed Pattern
 286                  */
 287
 288                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 289                         /* write memory location */
 290                         *(Addr+I) = Val;
 291                 }
 292
 293                 /*
 294                  * Check every word within the words
 295                  * of tested memory and compare it
 296                  * with the fixed Pattern
 297                  */
 298
 299                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 300
 301                         /* read memory location */
 302
 303                         WordMem32 = *(Addr+I);
 304                         if (WordMem32 != Val) {
 305                                 Status = -1;
 306                                 goto End_Label;
 307                         }
 308                 }
 309         }
 310
 311 End_Label:
 312         return Status;
 313 }
 314
 315 /*****************************************************************************/
 316 /**
 317 *
 318 * Perform a destructive 16-bit wide memory test.
 319 *
 320 * @param    Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
 321 * @param    Words is the length of the block.
 322 * @param    Pattern is the constant used for the constant Pattern test, if 0,
 323 *           0xDEADBEEF is used.
 324 * @param    Subtest is the test selected. See xil_testmem.h for possible
 325 *           values.
 326 *
 327 * @return
 328 *
 329 * - -1 is returned for a failure
 330 * - 0 is returned for a pass
 331 *
 332 * @note
 333 *
 334 * Used for spaces where the address range of the region is smaller than
 335 * the data width. If the memory range is greater than 2 ** Width,
 336 * the patterns used in XIL_TESTMEM_WALKONES and XIL_TESTMEM_WALKZEROS will
 337 * repeat on a boundry of a power of two making it more difficult to detect
 338 * addressing errors. The XIL_TESTMEM_INCREMENT and XIL_TESTMEM_INVERSEADDR
 339 * tests suffer the same problem. Ideally, if large blocks of memory are to be
 340 * tested, break them up into smaller regions of memory to allow the test
 341 * patterns used not to repeat over the region tested.
 342 *
 343 *****************************************************************************/
 344 s32 Xil_TestMem16(u16 *Addr, u32 Words, u16 Pattern, u8 Subtest)
 345 {
 346         u32 I;
 347         u32 j;
 348         u16 Val;
 349         u16 FirtVal;
 350         u16 WordMem16;
 351         s32 Status = 0;
 352
 353         Xil_AssertNonvoid(Words != (u32)0);
 354         Xil_AssertNonvoid(Subtest <= XIL_TESTMEM_MAXTEST);
 355         Xil_AssertNonvoid(Addr != NULL);
 356
 357         /*
 358          * variable initialization
 359          */
 360         Val = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 361         FirtVal = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 362
 363         /*
 364          * selectthe proper Subtest(s)
 365          */
 366
 367         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INCREMENT)) {
 368                 /*
 369                  * Fill the memory with incrementing
 370                  * values starting from 'FirtVal'
 371                  */
 372                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 373                         /* write memory location */
 374                         *(Addr+I) = Val;
 375                         Val++;
 376                 }
 377                 /*
 378                  * Restore the reference 'Val' to the
 379                  * initial value
 380                  */
 381                 Val = FirtVal;
 382
 383                 /*
 384                  * Check every word within the words
 385                  * of tested memory and compare it
 386                  * with the incrementing reference val
 387                  */
 388
 389                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 390                         /* read memory location */
 391                         WordMem16 = *(Addr+I);
 392                         if (WordMem16 != Val) {
 393                                 Status = -1;
 394                                 goto End_Label;
 395                         }
 396                         Val++;
 397                 }
 398         }
 399
 400         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKONES)) {
 401                 /*
 402                  * set up to cycle through all possible initial test
 403                  * Patterns for walking ones test
 404                  */
 405
 406                 for (j = 0U; j < (u32)16; j++) {
 407                         /*
 408                          * Generate an initial value for walking ones test
 409                          * to test for bad data bits
 410                          */
 411
 412                         Val = (u16)((u32)1 << j);
 413                         /*
 414                          * START walking ones test
 415                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 416                          */
 417
 418                         for (I = 0U; I < (u32)16; I++) {
 419                                 /* write memory location */
 420                                 *(Addr+I) = Val;
 421                                 Val = (u16)RotateLeft(Val, 16U);
 422                         }
 423                         /*
 424                          * Restore the reference 'Val' to the
 425                          * initial value
 426                          */
 427                         Val = (u16)((u32)1 << j);
 428                         /* Read the values from each location that was written */
 429                         for (I = 0U; I < (u32)16; I++) {
 430                                 /* read memory location */
 431                                 WordMem16 = *(Addr+I);
 432                                 if (WordMem16 != Val) {
 433                                         Status = -1;
 434                                         goto End_Label;
 435                                 }
 436                                 Val = (u16)RotateLeft(Val, 16U);
 437                         }
 438                 }
 439         }
 440
 441         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKZEROS)) {
 442                 /*
 443                  * set up to cycle through all possible initial
 444                  * test Patterns for walking zeros test
 445                  */
 446
 447                 for (j = 0U; j < (u32)16; j++) {
 448                         /*
 449                          * Generate an initial value for walking ones
 450                          * test to test for bad
 451                          * data bits
 452                          */
 453
 454                         Val = ~(1U << j);
 455                         /*
 456                          * START walking zeros test
 457                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 458                          */
 459
 460                         for (I = 0U; I < (u32)16; I++) {
 461                                 /* write memory location */
 462                                 *(Addr+I) = Val;
 463                                 Val = ~((u16)RotateLeft(~Val, 16U));
 464                         }
 465                         /*
 466                          * Restore the reference 'Val' to the
 467                          * initial value
 468                          */
 469                         Val = ~(1U << j);
 470                         /* Read the values from each location that was written */
 471                         for (I = 0U; I < (u32)16; I++) {
 472                                 /* read memory location */
 473                                 WordMem16 = *(Addr+I);
 474                                 if (WordMem16 != Val) {
 475                                         Status = -1;
 476                                         goto End_Label;
 477                                 }
 478                                 Val = ~((u16)RotateLeft(~Val, 16U));
 479                         }
 480
 481                 }
 482         }
 483
 484         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INVERSEADDR)) {
 485                 /* Fill the memory with inverse of address */
 486                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 487                         /* write memory location */
 488                         Val = (u16) (~((INTPTR)(&Addr[I])));
 489                         *(Addr+I) = Val;
 490                 }
 491                 /*
 492                  * Check every word within the words
 493                  * of tested memory
 494                  */
 495
 496                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 497                         /* read memory location */
 498                         WordMem16 = *(Addr+I);
 499                         Val = (u16) (~((INTPTR) (&Addr[I])));
 500                         if ((WordMem16 ^ Val) != 0x0000U) {
 501                                 Status = -1;
 502                                 goto End_Label;
 503                         }
 504                 }
 505         }
 506
 507         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_FIXEDPATTERN)) {
 508                 /*
 509                  * Generate an initial value for
 510                  * memory testing
 511                  */
 512                 if (Pattern == (u16)0) {
 513                         Val = 0xDEADU;
 514                 }
 515                 else {
 516                         Val = Pattern;
 517                 }
 518
 519                 /*
 520                  * Fill the memory with fixed pattern
 521                  */
 522
 523                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 524                         /* write memory location */
 525                         *(Addr+I) = Val;
 526                 }
 527
 528                 /*
 529                  * Check every word within the words
 530                  * of tested memory and compare it
 531                  * with the fixed pattern
 532                  */
 533
 534                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 535                         /* read memory location */
 536                         WordMem16 = *(Addr+I);
 537                         if (WordMem16 != Val) {
 538                                 Status = -1;
 539                                 goto End_Label;
 540                         }
 541                 }
 542         }
 543
 544 End_Label:
 545         return Status;
 546 }
 547
 548
 549 /*****************************************************************************/
 550 /**
 551 *
 552 * Perform a destructive 8-bit wide memory test.
 553 *
 554 * @param    Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
 555 * @param    Words is the length of the block.
 556 * @param    Pattern is the constant used for the constant pattern test, if 0,
 557 *           0xDEADBEEF is used.
 558 * @param    Subtest is the test selected. See xil_testmem.h for possible
 559 *           values.
 560 *
 561 * @return
 562 *
 563 * - -1 is returned for a failure
 564 * - 0 is returned for a pass
 565 *
 566 * @note
 567 *
 568 * Used for spaces where the address range of the region is smaller than
 569 * the data width. If the memory range is greater than 2 ** Width,
 570 * the patterns used in XIL_TESTMEM_WALKONES and XIL_TESTMEM_WALKZEROS will
 571 * repeat on a boundry of a power of two making it more difficult to detect
 572 * addressing errors. The XIL_TESTMEM_INCREMENT and XIL_TESTMEM_INVERSEADDR
 573 * tests suffer the same problem. Ideally, if large blocks of memory are to be
 574 * tested, break them up into smaller regions of memory to allow the test
 575 * patterns used not to repeat over the region tested.
 576 *
 577 *****************************************************************************/
 578 s32 Xil_TestMem8(u8 *Addr, u32 Words, u8 Pattern, u8 Subtest)
 579 {
 580         u32 I;
 581         u32 j;
 582         u8 Val;
 583         u8 FirtVal;
 584         u8 WordMem8;
 585         s32 Status = 0;
 586
 587         Xil_AssertNonvoid(Words != (u32)0);
 588         Xil_AssertNonvoid(Subtest <= XIL_TESTMEM_MAXTEST);
 589         Xil_AssertNonvoid(Addr != NULL);
 590
 591         /*
 592          * variable initialization
 593          */
 594         Val = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 595         FirtVal = XIL_TESTMEM_INIT_VALUE;
 596
 597         /*
 598          * select the proper Subtest(s)
 599          */
 600
 601         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INCREMENT)) {
 602                 /*
 603                  * Fill the memory with incrementing
 604                  * values starting from 'FirtVal'
 605                  */
 606                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 607                         /* write memory location */
 608                         *(Addr+I) = Val;
 609                         Val++;
 610                 }
 611                 /*
 612                  * Restore the reference 'Val' to the
 613                  * initial value
 614                  */
 615                 Val = FirtVal;
 616                 /*
 617                  * Check every word within the words
 618                  * of tested memory and compare it
 619                  * with the incrementing reference
 620                  * Val
 621                  */
 622
 623                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 624                         /* read memory location */
 625                         WordMem8 = *(Addr+I);
 626                         if (WordMem8 != Val) {
 627                                 Status = -1;
 628                                 goto End_Label;
 629                         }
 630                         Val++;
 631                 }
 632         }
 633
 634         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKONES)) {
 635                 /*
 636                  * set up to cycle through all possible initial
 637                  * test Patterns for walking ones test
 638                  */
 639
 640                 for (j = 0U; j < (u32)8; j++) {
 641                         /*
 642                          * Generate an initial value for walking ones test
 643                          * to test for bad data bits
 644                          */
 645                         Val = (u8)((u32)1 << j);
 646                         /*
 647                          * START walking ones test
 648                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 649                          */
 650                         for (I = 0U; I < (u32)8; I++) {
 651                                 /* write memory location */
 652                                 *(Addr+I) = Val;
 653                                 Val = (u8)RotateLeft(Val, 8U);
 654                         }
 655                         /*
 656                          * Restore the reference 'Val' to the
 657                          * initial value
 658                          */
 659                         Val = (u8)((u32)1 << j);
 660                         /* Read the values from each location that was written */
 661                         for (I = 0U; I < (u32)8; I++) {
 662                                 /* read memory location */
 663                                 WordMem8 = *(Addr+I);
 664                                 if (WordMem8 != Val) {
 665                                         Status = -1;
 666                                         goto End_Label;
 667                                 }
 668                                 Val = (u8)RotateLeft(Val, 8U);
 669                         }
 670                 }
 671         }
 672
 673         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_WALKZEROS)) {
 674                 /*
 675                  * set up to cycle through all possible initial test
 676                  * Patterns for walking zeros test
 677                  */
 678
 679                 for (j = 0U; j < (u32)8; j++) {
 680                         /*
 681                          * Generate an initial value for walking ones test to test
 682                          * for bad data bits
 683                          */
 684                         Val = ~(1U << j);
 685                         /*
 686                          * START walking zeros test
 687                          * Write a one to each data bit indifferent locations
 688                          */
 689                         for (I = 0U; I < (u32)8; I++) {
 690                                 /* write memory location */
 691                                 *(Addr+I) = Val;
 692                                 Val = ~((u8)RotateLeft(~Val, 8U));
 693                         }
 694                         /*
 695                          * Restore the reference 'Val' to the
 696                          * initial value
 697                          */
 698                         Val = ~(1U << j);
 699                         /* Read the values from each location that was written */
 700                         for (I = 0U; I < (u32)8; I++) {
 701                                 /* read memory location */
 702                                 WordMem8 = *(Addr+I);
 703                                 if (WordMem8 != Val) {
 704                                         Status = -1;
 705                                         goto End_Label;
 706                                 }
 707
 708                                 Val = ~((u8)RotateLeft(~Val, 8U));
 709                         }
 710                 }
 711         }
 712
 713         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_INVERSEADDR)) {
 714                 /* Fill the memory with inverse of address */
 715                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 716                         /* write memory location */
 717                         Val = (u8) (~((INTPTR) (&Addr[I])));
 718                         *(Addr+I) = Val;
 719                 }
 720
 721                 /*
 722                  * Check every word within the words
 723                  * of tested memory
 724                  */
 725
 726                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 727                         /* read memory location */
 728                         WordMem8 = *(Addr+I);
 729                         Val = (u8) (~((INTPTR) (&Addr[I])));
 730                         if ((WordMem8 ^ Val) != 0x00U) {
 731                                 Status = -1;
 732                                 goto End_Label;
 733                         }
 734                 }
 735         }
 736
 737         if((Subtest == XIL_TESTMEM_ALLMEMTESTS) || (Subtest == XIL_TESTMEM_FIXEDPATTERN)) {
 738                 /*
 739                  * Generate an initial value for
 740                  * memory testing
 741                  */
 742
 743                 if (Pattern == (u8)0) {
 744                         Val = 0xA5U;
 745                 }
 746                 else {
 747                         Val = Pattern;
 748                 }
 749                 /*
 750                  * Fill the memory with fixed Pattern
 751                  */
 752                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 753                         /* write memory location */
 754                         *(Addr+I) = Val;
 755                 }
 756                 /*
 757                  * Check every word within the words
 758                  * of tested memory and compare it
 759                  * with the fixed Pattern
 760                  */
 761
 762                 for (I = 0U; I < Words; I++) {
 763                         /* read memory location */
 764                         WordMem8 = *(Addr+I);
 765                         if (WordMem8 != Val) {
 766                                 Status = -1;
 767                                 goto End_Label;
 768                         }
 769                 }
 770         }
 771
 772 End_Label:
 773         return Status;
 774 }
 775
 776
 777 /*****************************************************************************/
 778 /**
 779 *
 780 * Rotates the provided value to the left one bit position
 781 *
 782 * @param    Input is value to be rotated to the left
 783 * @param    Width is the number of bits in the input data
 784 *
 785 * @return
 786 *
 787 * The resulting unsigned long value of the rotate left
 788 *
 789 * @note
 790 *
 791 * None.
 792 *
 793 *****************************************************************************/
 794 static u32 RotateLeft(u32 Input, u8 Width)
 795 {
 796         u32 Msb;
 797         u32 ReturnVal;
 798         u32 WidthMask;
 799         u32 MsbMask;
 800         u32 LocalInput = Input;
 801
 802         /*
 803          * set up the WidthMask and the MsbMask
 804          */
 805
 806         MsbMask = 1U << (Width - 1U);
 807
 808         WidthMask = (MsbMask << (u32)1) - (u32)1;
 809
 810         /*
 811          * set the Width of the Input to the correct width
 812          */
 813
 814         LocalInput = LocalInput & WidthMask;
 815
 816         Msb = LocalInput & MsbMask;
 817
 818         ReturnVal = LocalInput << 1U;
 819
 820         if (Msb != 0x00000000U) {
 821                 ReturnVal = ReturnVal | (u32)0x00000001;
 822         }
 823
 824         ReturnVal = ReturnVal & WidthMask;
 825
 826         return ReturnVal;
 827
 828 }
 829
 830 #ifdef ROTATE_RIGHT
 831 /*****************************************************************************/
 832 /**
 833 *
 834 * Rotates the provided value to the right one bit position
 835 *
 836 * @param    Input is value to be rotated to the right
 837 * @param    Width is the number of bits in the input data
 838 *
 839 * @return
 840 *
 841 * The resulting u32 value of the rotate right
 842 *
 843 * @note
 844 *
 845 * None.
 846 *
 847 *****************************************************************************/
 848 static u32 RotateRight(u32 Input, u8 Width)
 849 {
 850         u32 Lsb;
 851         u32 ReturnVal;
 852         u32 WidthMask;
 853         u32 MsbMask;
 854         u32 LocalInput = Input;
 855         /*
 856          * set up the WidthMask and the MsbMask
 857          */
 858
 859         MsbMask = 1U << (Width - 1U);
 860
 861         WidthMask = (MsbMask << 1U) - 1U;
 862
 863         /*
 864          * set the width of the input to the correct width
 865          */
 866
 867         LocalInput = LocalInput & WidthMask;
 868
 869         ReturnVal = LocalInput >> 1U;
 870
 871         Lsb = LocalInput & 0x00000001U;
 872
 873         if (Lsb != 0x00000000U) {
 874                 ReturnVal = ReturnVal | MsbMask;
 875         }
 876
 877         ReturnVal = ReturnVal & WidthMask;
 878
 879         return ReturnVal;
 880
 881 }
 882 #endif /* ROTATE_RIGHT */