git.sur5r.net Git - freertos/blob

   1 /******************************************************************************
   2 *
   3 * Copyright (C) 2009 - 2015 Xilinx, Inc. All rights reserved.
   4 *
   5 * Permission is hereby granted, free of charge, to any person obtaining a copy
   6 * of this software and associated documentation files (the "Software"), to deal
   7 * in the Software without restriction, including without limitation the rights
   8 * to use, copy, modify, merge, publish, distribute, sublicense, and/or sell
   9 * copies of the Software, and to permit persons to whom the Software is
  10 * furnished to do so, subject to the following conditions:
  11 *
  12 * The above copyright notice and this permission notice shall be included in
  13 * all copies or substantial portions of the Software.
  14 *
  15 * Use of the Software is limited solely to applications:
  16 * (a) running on a Xilinx device, or
  17 * (b) that interact with a Xilinx device through a bus or interconnect.
  18 *
  19 * THE SOFTWARE IS PROVIDED "AS IS", WITHOUT WARRANTY OF ANY KIND, EXPRESS OR
  20 * IMPLIED, INCLUDING BUT NOT LIMITED TO THE WARRANTIES OF MERCHANTABILITY,
  21 * FITNESS FOR A PARTICULAR PURPOSE AND NONINFRINGEMENT. IN NO EVENT SHALL
  22 * XILINX  BE LIABLE FOR ANY CLAIM, DAMAGES OR OTHER LIABILITY,
  23 * WHETHER IN AN ACTION OF CONTRACT, TORT OR OTHERWISE, ARISING FROM, OUT OF
  24 * OR IN CONNECTION WITH THE SOFTWARE OR THE USE OR OTHER DEALINGS IN THE
  25 * SOFTWARE.
  26 *
  27 * Except as contained in this notice, the name of the Xilinx shall not be used
  28 * in advertising or otherwise to promote the sale, use or other dealings in
  29 * this Software without prior written authorization from Xilinx.
  30 *
  31 ******************************************************************************/
  32 /*****************************************************************************/
  33 /**
  34 *
  35 * @file xil_testmemend.c
  36 *
  37 * Contains the memory test utility functions.
  38 *
  39 * <pre>
  40 * MODIFICATION HISTORY:
  41 *
  42 * Ver    Who    Date    Changes
  43 * ----- ---- -------- -----------------------------------------------
  44 * 1.00a hbm  08/25/09 First release
  45 * </pre>
  46 *
  47 *****************************************************************************/
  48
  49 /***************************** Include Files ********************************/
  50 #include "xil_testio.h"
  51 #include "xil_assert.h"
  52 #include "xil_io.h"
  53
  54 /************************** Constant Definitions ****************************/
  55 /************************** Function Prototypes *****************************/
  56
  57
  58
  59 /**
  60  *
  61  * Endian swap a 16-bit word.
  62  * @param       Data is the 16-bit word to be swapped.
  63  * @return      The endian swapped value.
  64  *
  65  */
  66 static u16 Swap16(u16 Data)
  67 {
  68         return ((Data >> 8U) & 0x00FFU) | ((Data << 8U) & 0xFF00U);
  69 }
  70
  71 /**
  72  *
  73  * Endian swap a 32-bit word.
  74  * @param       Data is the 32-bit word to be swapped.
  75  * @return      The endian swapped value.
  76  *
  77  */
  78 static u32 Swap32(u32 Data)
  79 {
  80         u16 Lo16;
  81         u16 Hi16;
  82
  83         u16 Swap16Lo;
  84         u16 Swap16Hi;
  85
  86         Hi16 = (u16)((Data >> 16U) & 0x0000FFFFU);
  87         Lo16 = (u16)(Data & 0x0000FFFFU);
  88
  89         Swap16Lo = Swap16(Lo16);
  90         Swap16Hi = Swap16(Hi16);
  91
  92         return (((u32)(Swap16Lo)) << 16U) | ((u32)Swap16Hi);
  93 }
  94
  95 /*****************************************************************************/
  96 /**
  97 *
  98 * Perform a destructive 8-bit wide register IO test where the register is
  99 * accessed using Xil_Out8 and Xil_In8, and comparing the reading and writing
 100 * values.
 101 *
 102 * @param        Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
 103 * @param        Length is the Length of the block.
 104 * @param        Value is the constant used for writting the memory.
 105 *
 106 * @return
 107 *
 108 * - -1 is returned for a failure
 109 * - 0 is returned for a pass
 110 *
 111 *****************************************************************************/
 112
 113 s32 Xil_TestIO8(u8 *Addr, s32 Length, u8 Value)
 114 {
 115         u8 ValueIn;
 116         s32 Index;
 117         s32 Status = 0;
 118
 119         for (Index = 0; Index < Length; Index++) {
 120                 Xil_Out8((INTPTR)Addr, Value);
 121
 122                 ValueIn = Xil_In8((INTPTR)Addr);
 123
 124                 if ((Value != ValueIn) && (Status == 0)) {
 125                         Status = -1;
 126                         break;
 127                 }
 128         }
 129         return Status;
 130
 131 }
 132
 133 /*****************************************************************************/
 134 /**
 135 *
 136 * Perform a destructive 16-bit wide register IO test. Each location is tested
 137 * by sequentially writing a 16-bit wide register, reading the register, and
 138 * comparing value. This function tests three kinds of register IO functions,
 139 * normal register IO, little-endian register IO, and big-endian register IO.
 140 * When testing little/big-endian IO, the function performs the following
 141 * sequence, Xil_Out16LE/Xil_Out16BE, Xil_In16, Compare In-Out values,
 142 * Xil_Out16, Xil_In16LE/Xil_In16BE, Compare In-Out values. Whether to swap the
 143 * read-in value before comparing is controlled by the 5th argument.
 144 *
 145 * @param        Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
 146 * @param        Length is the Length of the block.
 147 * @param        Value is the constant used for writting the memory.
 148 * @param        Kind is the test kind. Acceptable values are:
 149 *               XIL_TESTIO_DEFAULT, XIL_TESTIO_LE, XIL_TESTIO_BE.
 150 * @param        Swap indicates whether to byte swap the read-in value.
 151 *
 152 * @return
 153 *
 154 * - -1 is returned for a failure
 155 * - 0 is returned for a pass
 156 *
 157 *****************************************************************************/
 158
 159 s32 Xil_TestIO16(u16 *Addr, s32 Length, u16 Value, s32 Kind, s32 Swap)
 160 {
 161         u16 *TempAddr16;
 162         u16 ValueIn = 0U;
 163         s32 Index;
 164         TempAddr16 = Addr;
 165         Xil_AssertNonvoid(TempAddr16 != NULL);
 166
 167         for (Index = 0; Index < Length; Index++) {
 168                 switch (Kind) {
 169                 case XIL_TESTIO_LE:
 170                         Xil_Out16LE((INTPTR)TempAddr16, Value);
 171                         break;
 172                 case XIL_TESTIO_BE:
 173                         Xil_Out16BE((INTPTR)TempAddr16, Value);
 174                         break;
 175                 default:
 176                         Xil_Out16((INTPTR)TempAddr16, Value);
 177                         break;
 178                 }
 179
 180                 ValueIn = Xil_In16((INTPTR)TempAddr16);
 181
 182                 if ((Kind != 0) && (Swap != 0)) {
 183                         ValueIn = Swap16(ValueIn);
 184                 }
 185
 186                 if (Value != ValueIn) {
 187                         return -1;
 188                 }
 189
 190                 /* second round */
 191                 Xil_Out16((INTPTR)TempAddr16, Value);
 192
 193                 switch (Kind) {
 194                 case XIL_TESTIO_LE:
 195                         ValueIn = Xil_In16LE((INTPTR)TempAddr16);
 196                         break;
 197                 case XIL_TESTIO_BE:
 198                         ValueIn = Xil_In16BE((INTPTR)TempAddr16);
 199                         break;
 200                 default:
 201                         ValueIn = Xil_In16((INTPTR)TempAddr16);
 202                         break;
 203                 }
 204
 205
 206                 if ((Kind != 0) && (Swap != 0)) {
 207                         ValueIn = Swap16(ValueIn);
 208                 }
 209
 210                 if (Value != ValueIn) {
 211                         return -1;
 212                 }
 213                 TempAddr16 += sizeof(u16);
 214         }
 215         return 0;
 216 }
 217
 218
 219 /*****************************************************************************/
 220 /**
 221 *
 222 * Perform a destructive 32-bit wide register IO test. Each location is tested
 223 * by sequentially writing a 32-bit wide regsiter, reading the register, and
 224 * comparing value. This function tests three kinds of register IO functions,
 225 * normal register IO, little-endian register IO, and big-endian register IO.
 226 * When testing little/big-endian IO, the function perform the following
 227 * sequence, Xil_Out32LE/Xil_Out32BE, Xil_In32, Compare,
 228 * Xil_Out32, Xil_In32LE/Xil_In32BE, Compare. Whether to swap the read-in value
 229 * before comparing is controlled by the 5th argument.
 230 *
 231 * @param        Addr is a pointer to the region of memory to be tested.
 232 * @param        Length is the Length of the block.
 233 * @param        Value is the constant used for writting the memory.
 234 * @param        Kind is the test kind. Acceptable values are:
 235 *               XIL_TESTIO_DEFAULT, XIL_TESTIO_LE, XIL_TESTIO_BE.
 236 * @param        Swap indicates whether to byte swap the read-in value.
 237 *
 238 * @return
 239 *
 240 * - -1 is returned for a failure
 241 * - 0 is returned for a pass
 242 *
 243 *****************************************************************************/
 244 s32 Xil_TestIO32(u32 *Addr, s32 Length, u32 Value, s32 Kind, s32 Swap)
 245 {
 246         u32 *TempAddr;
 247         u32 ValueIn = 0U;
 248         s32 Index;
 249         TempAddr = Addr;
 250         Xil_AssertNonvoid(TempAddr != NULL);
 251
 252         for (Index = 0; Index < Length; Index++) {
 253                 switch (Kind) {
 254                 case XIL_TESTIO_LE:
 255                         Xil_Out32LE((INTPTR)TempAddr, Value);
 256                         break;
 257                 case XIL_TESTIO_BE:
 258                         Xil_Out32BE((INTPTR)TempAddr, Value);
 259                         break;
 260                 default:
 261                         Xil_Out32((INTPTR)TempAddr, Value);
 262                         break;
 263                 }
 264
 265                 ValueIn = Xil_In32((INTPTR)TempAddr);
 266
 267                 if ((Kind != 0) && (Swap != 0)) {
 268                         ValueIn = Swap32(ValueIn);
 269                 }
 270
 271                 if (Value != ValueIn) {
 272                         return -1;
 273                 }
 274
 275                 /* second round */
 276                 Xil_Out32((INTPTR)TempAddr, Value);
 277
 278
 279                 switch (Kind) {
 280                 case XIL_TESTIO_LE:
 281                         ValueIn = Xil_In32LE((INTPTR)TempAddr);
 282                         break;
 283                 case XIL_TESTIO_BE:
 284                         ValueIn = Xil_In32BE((INTPTR)TempAddr);
 285                         break;
 286                 default:
 287                         ValueIn = Xil_In32((INTPTR)TempAddr);
 288                         break;
 289                 }
 290
 291                 if ((Kind != 0) && (Swap != 0)) {
 292                         ValueIn = Swap32(ValueIn);
 293                 }
 294
 295                 if (Value != ValueIn) {
 296                         return -1;
 297                 }
 298                 TempAddr += sizeof(u32);
 299         }
 300         return 0;
 301 }